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机译:扫描原子力显微镜中的法向力和横向力标准以及尖端半径和样品弹性标准
公开/公告号GB201011099D0
专利类型
公开/公告日2010-08-18
原文格式PDF
申请/专利权人 OHNESORGE FRANK M;
申请/专利号GB20100011099
发明设计人
申请日2010-07-01
分类号
国家 GB
入库时间 2022-08-21 18:26:16
机译: 原位校准的AFM-扫描原子力显微镜中的法向力和横向力标准以及尖端半径和样品弹性标准
机译: 扫描原子力显微镜中的法向力和横向力标准以及尖端半径和样品弹性标准