解决方案:微粒分析仪配备有:光源1,用于向微粒P照射光;声光调制器8,用于通过光的照射来散射从微粒P发出的荧光;狭缝9,用于允许仅来自声光调制器8的衍射光中的衍射中心波长区域的衍射光通过,检测器7用于检测通过狭缝9的衍射中心波长区域的衍射光。 (C)2011,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2011163787A
专利类型
公开/公告日2011-08-25
原文格式PDF
申请/专利权人 SONY CORP;
申请/专利号JP20100023720
申请日2010-02-05
分类号G01N15/14;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 18:24:54