要解决的问题:为了高精度地校正由断层摄影设备捕获的多个断层摄影之间的位置偏移。
解决方案:断层摄影设备校正构成三维断层图的多个二维断层图之间的位置偏移。断层摄影装置包括:断层摄影分析部120,其用于提取表示测量对象组织的特征量。断层图选择部140,其基于特征量从多个二维断层图中选择基准二维断层图。断层图像位置校正部150,用于从n-1个二维断层图像计算与基准二维断层图像相邻的第n个二维断层图像的位置偏移量。
版权:(C)2011,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2011019576A
专利类型
公开/公告日2011-02-03
原文格式PDF
申请/专利权人 CANON INC;
申请/专利号JP20090165053
申请日2009-07-13
分类号A61B3/10;A61B3/12;G01N21/17;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 18:23:09