首页> 外国专利> Similarity determination method and similarity determination device between multilayer dielectric, multilayer dielectric that was to be determined the identity

Similarity determination method and similarity determination device between multilayer dielectric, multilayer dielectric that was to be determined the identity

机译:多层电介质之间的相似度确定方法和相似度确定装置,要确定身份的多层电介质

摘要

PPROBLEM TO BE SOLVED: To provide a decision method capable of easily deciding forgery or alternation, in a dielectric material such as a card. PSOLUTION: Signal waveforms detected from a plurality of multilayer dielectrics are compared by use of a pulse electrostatic stress method applying a pulse voltage to the multilayer dielectric comprising a plurality of layers having different dielectric constants, and detecting pulse-like stress generated in the multilayer body at that time, so that similarity between the multilayer dielectrics is decided. PCOPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI
机译:

要解决的问题:提供一种能够容易地确定诸如卡之类的介电材料中的伪造或替代的决定方法。解决方案:通过使用脉冲静电应力方法比较从多​​个多层电介质中检测到的信号波形,该方法将脉冲电压施加到包括多个介电常数不同的多层的多层电介质中,并检测在这时,可以确定多层电介质之间的相似性。

版权:(C)2006,JPO&NCIPI

著录项

  • 公开/公告号JP4719934B2

    专利类型

  • 公开/公告日2011-07-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 独立行政法人情報通信研究機構;

    申请/专利号JP20040348926

  • 发明设计人 前野 恭;

    申请日2004-12-01

  • 分类号G07D7/02;G06K17/00;G06K19/10;B42D15/10;G01N29/00;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 18:17:03

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号