首页> 外国专利> Methods of Calibrating and Operating an Ion Trap Mass Analyzer to Optimize Mass Spectral Peak Characteristics

Methods of Calibrating and Operating an Ion Trap Mass Analyzer to Optimize Mass Spectral Peak Characteristics

机译:校准和操作离子阱质谱仪以优化质谱峰特征的方法

摘要

A method for calibrating an ion trap mass spectrometer is disclosed. The method includes establishing an optimal phase and amplitude-m/z relationship by acquiring peak quality data at varying values of amplitude and phase. The resonant ejection voltage applied to the electrodes of the ion trap may then be controlled during analytical scans in accordance with the established relationship between m/z and resonant ejection voltage amplitude.
机译:公开了一种用于校准离子阱质谱仪的方法。该方法包括通过获取振幅和相位的变化值处的峰值质量数据来建立最佳相位和振幅-m / z关系。然后,可以根据m / z与共振喷射电压幅度之间的已建立的关系,在分析扫描期间控制施加到离子阱的电极的共振喷射电压。

著录项

  • 公开/公告号US2011012013A1

    专利类型

  • 公开/公告日2011-01-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 PHILIP M. REMES;JAE C. SCHWARTZ;

    申请/专利号US20100890980

  • 发明设计人 PHILIP M. REMES;JAE C. SCHWARTZ;

    申请日2010-09-27

  • 分类号G12B13/00;H01J49/00;B01D59/44;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 18:14:46

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号