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ADC HAVING IMPROVED SAMPLE CLOCK JITTER PERFORMANCE

机译:ADC的采样时钟抖动性能得到改善

摘要

In conventional analog-to-digital converter (ADC) systems, jitter can be a problem because of delay circuits within the sample signal path. Here, an ADC system is provided with a modified delay locked loop (DLL), namely having a variable delay and a fixed delay. The modification to the delay line of DLL enables the removal of delay circuits from the sample path, improve the overall signal to noise ration (SNR).
机译:在常规的模数转换器(ADC)系统中,由于采样信号路径中的延迟电路,抖动可能成为问题。在此,ADC系统具有改进的延迟锁定环(DLL),即具有可变延迟和固定延迟。通过对DLL延迟线进行修改,可以从采样路径中删除延迟电路,从而改善整体信噪比(SNR)。

著录项

  • 公开/公告号IN2009CH02831A

    专利类型

  • 公开/公告日2011-05-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号IN2831/CHE/2009

  • 发明设计人 NITIN AGARWAL;

    申请日2009-11-17

  • 分类号

  • 国家 IN

  • 入库时间 2022-08-21 18:05:55

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