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SYSTEM FOR TREE SEQUENCE TESTING OF A DEVICE AND METHOD FOR TREE SEQUENCE TESTING OF A DEVICE IN A TEST FRAMEWORK ARCHITECTURE

机译:在测试框架体系结构中用于设备的树序测试的系统和用于设备的树序测试的方法

摘要

A system (10) comprises a test framework architecture for tree sequence testing of a device, comprising a plurality of hierarchical layers (12, 14, 16) at least comprising an upmost layer and a lowest layer, each layer of the plurality of hierarchical layers comprising at least one of a plurality of test sequences (18, 20, 22, 24), each test sequence comprising a plurality of test steps (26-44), each test step comprising a current layer information; a test action information for carrying out a test action on the device; and a recovery information for carrying out a recovery action on reception of a recovery call (46, 48) from a next lower layer.
机译:系统(10)包括用于设备的树序列测试的测试框架架构,其包括至少至少包括最上层和最下层的多个分层层(12、14、16),所述多个分层层中的每一层包括多个测试序列(18、20、22、24)中的至少一个,每个测试序列包括多个测试步骤(26-44),每个测试步骤包括当前层信息;测试动作信息,用于在设备上执行测试动作;恢复信息,用于在接收到来自下一个较低层的恢复呼叫(46、48)时执行恢复动作。

著录项

  • 公开/公告号WO2010112974A3

    专利类型

  • 公开/公告日2011-06-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FREESCALE SEMICONDUCTOR INC.;TEPUS CRISTIAN;

    申请/专利号WO2009IB51353

  • 发明设计人 TEPUS CRISTIAN;

    申请日2009-03-31

  • 分类号G06F11/28;G06F12/08;

  • 国家 WO

  • 入库时间 2022-08-21 18:00:41

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