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Stripper containing an acetal or a ketal for removing post-etched phot-resist, etch polymer and residue

机译:含有乙缩醛或缩酮的剥离剂,用于去除蚀刻后的耐光蚀剂,蚀刻聚合物和残留物

摘要

The current invention describes a formulation comprising of acetal or ketal as a solvent, a polyhydric alcohol, water and pH adjuster. These formulations should have a pH at least 7 or higher. Formulations in this invention can optionally contain watersoluble organic solvents as co-solvent, corrosion inhibitors and fluorides. The formulations in this invention can be used to remove post-etched organic and inorganic residue as well as polymeric residues from semiconductor substrates.
机译:本发明描述了包含缩醛或缩酮作为溶剂,多元醇,水和pH调节剂的制剂。这些制剂的pH至少应为7或更高。本发明中的制剂可以任选地包含水溶性有机溶剂作为助溶剂,缓蚀剂和氟化物。本发明中的制剂可用于从半导体衬底上去除后蚀刻的有机和无机残留物以及聚合物残留物。

著录项

  • 公开/公告号EP1914296B1

    专利类型

  • 公开/公告日2011-03-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 AIR PROD & CHEM;

    申请/专利号EP20070118852

  • 发明设计人 LEGENZA MICHAEL WALTER;EGBE MATTHEW I.;

    申请日2007-10-19

  • 分类号C11D17/00;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 17:58:37

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