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DEVICE FOR CHARGE AND UV ANALYSIS, CAPABLE OF ANALYZING ONE OF A POSITIVE CHARGE, A NEGATIVE CHARGE, AND UV

机译:用于电荷和UV分析的设备,能够分析正电荷,负电荷和UV中的一种

摘要

PURPOSE: A device for charge and UV analysis is provided to analyze one of a positive charge, a negative charge, and UV to monitor macro change related to process conditions.;CONSTITUTION: In a device for charge and UV analysis, a first device(M1) detects a change in a threshold voltage due to positive charge generation. A second device detects a change in a threshold voltage due to negative charge generation. A third device detects a change in a threshold voltage due to UV generation. A substrate(1) has one of first, second, third device thereon.;COPYRIGHT KIPO 2011
机译:目的:提供一种用于电荷和UV分析的设备,用于分析正电荷,负电荷和UV中的一种,以监测与工艺条件有关的宏观变化。 M1)检测由于正电荷产生而导致的阈值电压的变化。第二设备检测由于负电荷产生而导致的阈值电压的变化。第三装置检测由于紫外线的产生引起的阈值电压的变化。基板(1)上具有第一,第二,第三设备中的一个。; COPYRIGHT KIPO 2011

著录项

  • 公开/公告号KR20110047018A

    专利类型

  • 公开/公告日2011-05-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD.;

    申请/专利号KR20090103769

  • 发明设计人 TOKASHIKI KEN;

    申请日2009-10-29

  • 分类号G01R19/12;H01L21/66;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 17:52:03

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