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Method of manufacturing a device provided with zones microelectronics semi - conductive on insulator a horizontal gradient of the concentration of ge.

机译:制造具有在绝缘体上半导电的ge浓度水平梯度的区域微电子器件的装置的方法。

摘要

The present invention relates to a method of producing a microelectronic device comprising at least one zone of semi conducting - (240, 340, 440, 740, 840, 940) resting on a support and having, in a direction parallel to principal plane of the support, a concentration gradient of the germanium, the method comprising the steps of: a) formed on a support of at least one masking (208) to oxidation comprising one or more holes (112, 114), the holes, exposing at least a first zone a semi conducting - (120, 220) comprising the inclined flanks (121, 122), and based on si, b) the formation of at least one second zone, a semi conducting - (130, 230) based on si1 - xgex (with 0 ≦ x) on the said first zone a semi - condutrice based on si, c) thermal oxidation through said masking of the said first zone a semi - conductive and said second zone, a semi conducting -.
机译:本发明涉及一种制造微电子器件的方法,该微电子器件包括至少一个半导电区域-(240、340、440、740、840、940),该半导电区域搁置在支撑物上,并且在平行于该主平面的方向上具有载体,锗的浓度梯度,该方法包括以下步骤:a)在至少一个掩膜(208)的载体上形成氧化以包括一个或多个孔(112、114),所述孔暴露至少一个第一区域是包括倾斜侧面(121、122)的半导体-(120、220),并且基于si,b)至少一个第二区域的形成是基于si1-的半导体-(130、230)-在所述第一区域上的x gex(具有0≤x)是基于si的半导体,c)通过所述第一区域的所述掩膜是半导电的而所述第二区域是半导体的热氧化。

著录项

  • 公开/公告号FR2936095B1

    专利类型

  • 公开/公告日2011-04-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 COMMISSARIAT A LENERGIE ATOMIQUE;

    申请/专利号FR20080056303

  • 发明设计人 BENJAMIN VINCENT;VINCENT DESTEFANIS;

    申请日2008-09-18

  • 分类号H01L21/321;H01L21/20;H01L21/30;

  • 国家 FR

  • 入库时间 2022-08-21 17:45:59

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