要解决的问题:通过防止影响整个半导体芯片的物理故障的不利影响,提高片上冗余系统的可靠性。
解决方案:比较核对电路对芯片上冗余系统的输出进行比较核对,该比较核对电路安装在除芯片上冗余系统以外的其他半导体芯片中。期望将另一个半导体芯片安装在与电源电路相同的半导体芯片中,该电源电路向芯片上系统冗余系统供电,在该芯片上冗余系统中,比较核对功能在芯片内变得冗余,驱动电路驱动输出电路。等等。防止了在片上冗余系统中发生的故障影响比较核对电路。
版权:(C)2009,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP5060263B2
专利类型
公开/公告日2012-10-31
原文格式PDF
申请/专利权人 日立オートモティブシステムズ株式会社;
申请/专利号JP20070315657
申请日2007-12-06
分类号H01L29/68;H01L29/784;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 17:40:10