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Being the manner which etches the silicify nickel and the mannered and mannered null silicify nickel which etches the silicify

机译:蚀刻硅化镍的方式和蚀刻硅化物的方式

摘要

The invention includes a method of forming conductive lines and a method for etching a cobalt silicide and nickel silicide, and the like. In one embodiment, an effective substrate comprising nickel silicide is a 2 O H and H 3 PO 4 at a pressure of 1100 torr 350 torr and a temperature of at least 50 in order to etch the nickel silicide from the substrate It is exposed to fluids containing. In one embodiment, at least one of cobalt silicide or nickel silicide, 350 Torr effective, and a temperature of 50 or more in order to etch the at least one of cobalt silicide or nickel silicide from the substrate at a pressure of 1100 Torr, H 2 SO 4, H 2 O 2, H 2 O, and is exposed to fluids containing HF. [Selection] Figure Figure 1
机译:本发明包括形成导线的方法和用于蚀刻硅化钴和硅化镍的方法等。在一个实施例中,包含硅化镍的有效衬底是在1100托350托下的 2O H和H 3 PO 4 。为了从衬底上蚀刻硅化镍,温度至少为50℃。在一个实施例中,为了在1100℃的压力下从衬底蚀刻硅化钴或硅化镍中的至少一种,有效的350托和50℃或更高的温度,以便从衬底上蚀刻硅化钴或硅化镍中的至少一种。托尔,H 2 SO 4, H 2 O 2, H 2 O,暴露于含HF的液体中。 [选择]图图1

著录项

  • 公开/公告号JP4863093B2

    专利类型

  • 公开/公告日2012-01-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 マイクロン テクノロジー;インク.;

    申请/专利号JP20080515729

  • 发明设计人 ラグー;プラシャント;

    申请日2006-05-19

  • 分类号H01L21/306;H01L21/28;H01L21/3213;H01L23/52;H01L21/3205;H01L29/78;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 17:36:31

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