首页> 外国专利> Device for emitting a first beam of high-energy photons and a second beam of lower-energy photons, and associated method and measuring unit

Device for emitting a first beam of high-energy photons and a second beam of lower-energy photons, and associated method and measuring unit

机译:用于发射高能光子的第一束和低能光子的第二束的装置以及相关的方法和测量单元

摘要

This device comprises a single radioactive source (44), capable of creating an incident beam (120), and a target (48) placed opposite the source (44).;The target (48) is capable of creating the second beam (130) by interacting with a first part of the incident beam (120), a second part of the incident beam (120) passing through the target (48) to form the first beam (124).
机译:该设备包括一个能够产生入射光束( 120 )的单一放射源( 44 ),以及一个与之相对放置的目标( 48 )目标( 44 )。目标( 48 )能够通过与目标( 130 )的第一部分相互作用来创建第二条光束( 130 )入射光束( 120 ),入射光束( 120 )的第二部分穿过目标( 48 )形成第一光束( 124 )。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号