首页> 外国专利> Method for producing tapered metallic nanowire tips on atomic force microscope cantilevers

Method for producing tapered metallic nanowire tips on atomic force microscope cantilevers

机译:在原子力显微镜悬臂上制造锥形金属纳米线尖端的方法

摘要

A method of making nanowire probes is provided. The method includes providing a template having a nanoporous structure, providing a probe tip that is disposed on top of the template, and growing nanowires on the probe tip, where the nanowires are grown from the probe tip along the nanopores, and the nanowires conform to the shape of the nanopores.
机译:提供了一种制造纳米线探针的方法。该方法包括提供具有纳米多孔结构的模板,提供设置在模板顶部的探针尖端,以及在探针尖端上生长纳米线,其中纳米线从探针尖端沿纳米孔生长,并且纳米线符合纳米孔的形状。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号