首页> 外国专利> Systems and methods for parametric mapping for correction of noise-based systematic bias of DTI metrics, using a DTI mapping phantom

Systems and methods for parametric mapping for correction of noise-based systematic bias of DTI metrics, using a DTI mapping phantom

机译:用于使用DTI映射体模校正基于噪声的DTI度量的系统偏差的参数映射的系统和方法

摘要

A system and method for minimizing, if not completely eliminating, the systematic bias present in an MR system used for DTI is disclosed. A test object or “phantom” of the present invention is scanned with a desired DTI protocol. The eigenvalues measured with the phantom are compared to the actual values that should have been measured, and a parametric map that links measured eigenvalues to actual eigenvalues is calculated, which is applicable to the desired protocol. Future eigenvalue measurements using this protocol can be recalibrated to actual eigenvalues using this map.
机译:公开了一种用于最小化(如果没有完全消除)用于DTI的MR系统中存在的系统偏差的系统和方法。用期望的DTI协议扫描本发明的测试对象或“幻像”。将用体模测量的特征值与应该测量的实际值进行比较,并计算将测量的特征值与实际特征值链接起来的参数图,该参数图适用于所需协议。使用此协议的未来特征值测量可以使用此映射重新校准为实际特征值。

著录项

  • 公开/公告号US8098068B2

    专利类型

  • 公开/公告日2012-01-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NATHAN E. YANASAK;TOM C. HU;

    申请/专利号US20090321340

  • 发明设计人 NATHAN E. YANASAK;TOM C. HU;

    申请日2009-01-15

  • 分类号G01V3/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 17:27:04

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号