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机译:材料双折射的测量方法和材料双折射的测量系统
公开/公告号PL211200B1
专利类型
公开/公告日2012-04-30
原文格式PDF
申请/专利权人 POLITECHNIKA WROCŁAWSKA;
申请/专利号PL20060380223
发明设计人 MASAJADA JAN;KURZYNOWSKI PIOTR;
申请日2006-07-17
分类号G01N21/23;G01B9/02;G01J9/02;
国家 PL
入库时间 2022-08-21 17:23:15
机译: 材料双折射的测量方法和材料双折射的测量系统
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