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Leak current calculation program, leak current calculation device, and leak current calculation method

机译:泄漏电流计算程序,泄漏电流计算装置和泄漏电流计算方法

摘要

A leak current calculation apparatus includes an acquiring section for acquiring partial circuit information, and a grouping section for forming a plurality of groups each comprising a part of the partial circuits connected with each other and for generating group information. The apparatus includes a leak difference value calculating section for calculating a leak difference value, which is a difference between a provisional maximum value acquired by adding up the maximum values of the leak current values of all the partial circuits and a sum of maximum values of the leak current values contained in the group information of the groups, and a maximum leak current calculating section for calculating the maximum leak current value of the integrated circuit by adjusting the provisional maximum value with the leak difference value.
机译:泄漏电流计算设备包括:获取部分,用于获取部分电路信息;以及分组部分,用于形成多个组,每个组包括彼此连接的部分电路的一部分,并且用于生成组信息。该设备包括用于计算泄漏差值的泄漏差值计算部分,该泄漏差值是通过将所有部分电路的泄漏电流值的最大值相加而获得的临时最大值与该部分的最大值之和之间的差。组的组信息中包含的最大泄漏电流值,以及最大泄漏电流计算部分,该最大泄漏电流计算部分用于通过利用泄漏差值调整临时最大值来计算集成电路的最大泄漏电流值。

著录项

  • 公开/公告号JP5239970B2

    专利类型

  • 公开/公告日2013-07-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 富士通株式会社;

    申请/专利号JP20090065123

  • 发明设计人 金澤 裕治;

    申请日2009-03-17

  • 分类号G06F17/50;H01L21/82;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 16:58:25

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