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机译:温度,kalibreringsblok和温度温度探空仪的校准程序
公开/公告号DK2399107T3
专利类型
公开/公告日2013-03-11
原文格式PDF
申请/专利权人 AMETEK DENMARK A/S;
申请/专利号DK20090779076T
发明设计人 GALSGAARD FOLKE;HARSLUND JAN HAAKON;LARSEN JOERGEN REINHOLDT;
申请日2009-02-19
分类号G01K15/00;
国家 DK
入库时间 2022-08-21 16:41:51
机译: 使用校准程序执行功能的校准测试方法,并处理具有校准程序显示功能的输入/输出设备和设备
机译: 具有校准过程执行功能和校准过程显示功能的过程输入输出设备,以及使用该校准过程的校准测试方法
机译: 使用具有校准功能的校准程序进行IC测试人员和IC测试人员的时间校准程序