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Authenticating a polymer film by measuring thickness using birefringence effects

机译:通过使用双折射效应测量厚度来认证聚合物膜

摘要

Disclosed is a method of authenticating a polymer film. The method is performed by measuring the birefringence of a layer of the film. It is then determined if the film is authentic or otherwise based upon a birefringence measurement obtained in the measuring step.
机译:公开了一种认证聚合物膜的方法。通过测量薄膜层的双折射来执行该方法。然后基于在测量步骤中获得的双折射测量来确定薄膜是否是真品。

著录项

  • 公开/公告号NZ602152A

    专利类型

  • 公开/公告日2013-04-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 INNOVIA FILMS SARL;

    申请/专利号NZ20090602152

  • 发明设计人

    申请日2009-04-28

  • 分类号G01B11/06;G01N21/23;G01N21/45;G07D7/16;

  • 国家 NZ

  • 入库时间 2022-08-21 16:40:29

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