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METHOD AND APPARATUS FOR TIME-BASED ANALYSIS OF ELECTRICAL IMPEDANCE TOMOGRAPHY DATA

机译:基于时间的电阻抗层析成像数据分析方法和装置

摘要

Method and apparatus for estimating an arrival time (PAT) value of a subject in an automatic and unsupervised fashion from a sequence of electrical impedance tomography (EIT) images. The method comprises: providing an EIT imaging device adapted to record impedance signal distribution within a measurement region of the subject; measuring a sequence of temporally discrete EIT images during a predetermined measuring time period in the measurement region using the EIT imaging device, each EIT image comprising one or a plurality of EIT pixel subsets, each of said one or a plurality of EIT pixel subset representing an impedance value; generating one or a plurality of time series, each of said one or a plurality of time series representing a variation of the impedance value of the sequence of EIT images; and estimating the PAT value from each of said one or a plurality of time series.
机译:用于根据一系列电阻抗断层摄影(EIT)图像以自动和无监督的方式估算对象的到达时间(PAT)值的方法和装置。该方法包括:提供适合于记录对象的测量区域内的阻抗信号分布的EIT成像设备;以及使用EIT成像设备在测量区域中的预定测量时间段内测量一系列时间离散的EIT图像,每个EIT图像都包含一个或多个EIT像素子集,每个所述一个或多个EIT像素子集代表一个阻抗值产生一个或多个时间序列,所述一个或多个时间序列中的每个代表EIT图像序列的阻抗值的变化;以及根据所述一个或多个时间序列中的每个时间序列来估计PAT值。

著录项

  • 公开/公告号EP2593004A1

    专利类型

  • 公开/公告日2013-05-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CSEM SA;

    申请/专利号EP20110731342

  • 发明设计人 BRUNNER JOSEF X.;SOLA I CAROS JOSEP;

    申请日2011-07-11

  • 分类号A61B5/053;A61B5/0285;G01N27/02;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 16:29:41

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