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A Method for the Toxicity Assessments of Nano-Materials using Selective Plane Illumination Microcopy

机译:一种使用选择性平面照明显微镜对纳米材料进行毒性评估的方法

摘要

PURPOSE: A method for evaluating nano-material risk is provided to obtain accurate and reproducible result. CONSTITUTION: A method for evaluating nano-material risk in real-time comprises: a step of exposing the nano-material to a cell medium; a step of measuring the number and size of the nano-material dispersed in the cell medium using two or more SPIM(selectively plane illumination microscopy); and a step of analyzing the effect for cells of the nano-material using the result. The SPIM is formed of a laser-based fluorescent microscope of a dark field. The number of the nano-materials dispersed in the cell medium is measure through a nano-material image analysis.
机译:目的:提供一种评估纳米材料风险的方法,以获得准确和可重复的结果。构成:一种实时评估纳米材料风险的方法,包括:将纳米材料暴露于细胞培养基的步骤;使用两个或更多个SPIM(选择性平面照明显微镜)测量分散在细胞培养基中的纳米材料的数量和尺寸的步骤;以及使用该结果分析纳米材料对细胞的影响的步骤。 SPIM由暗场的基于激光的荧光显微镜形成。通过纳米材料图像分析来测量分散在细胞培养基中的纳米材料的数量。

著录项

  • 公开/公告号KR20120126281A

    专利类型

  • 公开/公告日2012-11-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 한양대학교 산학협력단;

    申请/专利号KR20110043947

  • 发明设计人 윤태현;노현우;박종훈;최혁민;

    申请日2011-05-11

  • 分类号G01N33/52;G01N33/53;G01N15/14;G01N21/94;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 16:28:42

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