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MONITORING METHOD AND APPARATUS FOR ELECTRON ENERGY DISTRIBUTION CHARACTERISTICS OF PLASMA

机译:等离子体的电子能量分布特性的监测方法和装置

摘要

PURPOSE: A variation monitoring method of an electronic energy distribution property and an apparatus including the same are provided to shorten a calculation time by calculating an EEDFElectron Energy Distribution Function in a simple method by utilizing an OESOptical Emission Spectroscopy signal. CONSTITUTION: A mathematical modeling about a light intensity is established(S110). An EEDF is measured based on the established mathematical modeling(S120). A monitoring about a process plasma state is performed based on the variation of the measured EEDF(S130). [Reference numerals] (AA) Start; (BB) End; (S110) Establish mathematical modeling about light intensity; (S120) Measure an EEDF based on the mathematical modeling; (S130) Perform a monitoring about a process plasma state based on the variation of the EEDF
机译:目的:提供一种电子能量分布特性的变化监测方法和包括该方法的设备,以通过利用OES光学发射光谱信号的简单方法来计算EEDFE电子能量分布函数,从而缩短计算时间。构成:建立了关于光强度的数学模型(S110)。基于所建立的数学模型来测量EEDF(S120)。基于所测量的EEDF的变化来执行关于处理等离子体状态的监视(S130)。 [参考数字](AA)开始; (BB)结束; (S110)建立关于光强度的数学模型; (S120)基于数学模型测量EEDF; (S130)基于EEDF的变化对过程等离子体状态进行监视

著录项

  • 公开/公告号KR20130057677A

    专利类型

  • 公开/公告日2013-06-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SNU R&DB FOUNDATION;

    申请/专利号KR20110123540

  • 发明设计人 KIM GON HO;PARK SEOL HYE;ROH HYUN JOON;

    申请日2011-11-24

  • 分类号H05H1;H01L21/3065;H01L21/205;C23C16/52;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 16:27:00

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