机译:X射线检测器,即基于硅的X射线检测器,具有形成为使得能够基于穿透深度来产生不同波长的光的闪烁器,以及形成为能够检测出所产生的光的波长的有源阵列。
公开/公告号DE102011083694A1
专利类型
公开/公告日2013-04-04
原文格式PDF
申请/专利权人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT;
申请/专利号DE20111083694
发明设计人 ATZINGER FRANZ;HAHM GERHARD;HENRICH RAPHAEL;ILLENSEER CARSTEN;JABLONSKI CHRISTOPH;SANDKAMP BERNHARD;SCHILD MARKUS;STARK MICHAEL;WLOKA FABIAN;
申请日2011-09-29
分类号G01T1/29;G21K4;
国家 DE
入库时间 2022-08-21 16:22:21