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MASK DESIGN DEVICE AND MASK DESIGN METHOD

机译:面具设计装置和面具设计方法

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a mask design device capable of further reducing loads of design work of a circuit designer in terms of designing a mask pattern.;SOLUTION: A mask design device includes: cell data creation means that creates cell data; a layout data design unit that designs layout data of a semiconductor integrated circuit according to the created cell data; and a mask pattern design unit that designs a mask pattern of the semiconductor integrated circuit according to the layout data that is designed by the layout data design unit and structure data that is included in the cell data, and outputs mask data for generating the mask pattern. The mask pattern is constituted of a plurality of hierarchical layers of mask layer patterns. The mask pattern design unit includes: a mask pattern processing unit that designs a mask layer pattern of one hierarchical layer on the basis of a mask layer pattern of another hierarchical layer and physical restrictions of the structure data that is included in the cell data.;COPYRIGHT: (C)2014,JPO&INPIT
机译:解决的问题:提供一种掩模设计设备,该掩模设计设备能够在设计掩模图案方面进一步减轻电路设计者的设计工作负担;解决方案:掩模设计设备包括:单元数据创建装置,其创建单元数据;以及布局数据设计单元,其根据所创建的单元数据来设计半导体集成电路的布局数据;掩模图案设计单元,其根据由布局数据设计单元设计的布局数据和单元数据中包括的结构数据来设计半导体集成电路的掩模图案,并输出用于生成掩模图案的掩模数据。掩模图案由掩模层图案的多个分层层构成。掩模图案设计单元包括:掩模图案处理单元,其基于另一分层层的掩模层图案和单元数据中包括的结构数据的物理限制来设计一个分层层的掩模层图案。版权:(C)2014,日本特许厅和INPIT

著录项

  • 公开/公告号JP2014035568A

    专利类型

  • 公开/公告日2014-02-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 RENESAS ELECTRONICS CORP;

    申请/专利号JP20120174855

  • 发明设计人 KAMON KAZUYA;

    申请日2012-08-07

  • 分类号G06F17/50;H01L21/82;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 16:16:48

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