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Apparatus and method for reducing non-linear error of non-periodicity in interferometry

机译:减少干涉测量中非周期性非线性误差的装置和方法

摘要

In general, in one aspect, the invention features interferometry systems that include an interferometer configured to direct a first beam and a second beam derived from common light source along different paths and to combine the two beams to form an output beam including information related to an optical path difference between the different paths, wherein the path of the first beam contacts a measurement object. The interferometry systems also include an afocal system positioned in the path of the first beam and configured to increase a dimension of the first beam as it propagates from the interferometer towards the measurement object and reduces the dimension of the first beam as it returns from the measurement object propagating towards the interferometer.
机译:通常,在一个方面,本发明的特征在于干涉测量系统,该干涉测量系统包括干涉仪,该干涉仪被配置为沿着不同的路径引导从公共光源得到的第一光束和第二光束,并且将这两个光束组合以形成包括与光的相关信息的输出光束。不同路径之间的光程差,其中第一光束的路径接触测量对象。干涉测量系统还包括无焦点系统,该无焦点系统位于第一光束的路径中,并且构造成当第一光束从干涉仪向测量对象传播时增大第一光束的尺寸,并在其从测量返回时减小第一光束的尺寸。物体向干涉仪传播。

著录项

  • 公开/公告号JP5340730B2

    专利类型

  • 公开/公告日2013-11-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ザイゴ コーポレーション;

    申请/专利号JP20080519412

  • 发明设计人 ヒル、ヘンリー エイ.;

    申请日2006-06-22

  • 分类号G01B9/02;H01L21/027;G03F7/20;G01B11/00;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 16:12:41

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