要解决的问题:为了实现扫描电子显微镜的漂移校正方法,其中可以在映射时不需要很长时间的漂移校正。
解决方案:从原始坐标到X方向扫描电子束(步骤S201),并使用用于漂移校正的参考图像进行漂移校正(步骤202a)。在-X方向上扫描电子束2,并进行漂移校正(步骤S202b)。然后,将电子束从原点坐标扫描到-Y方向,并进行漂移校正。然后,沿Y方向扫描电子束,并进行漂移校正(步骤S202d)。此后,类似地,在X方向和Y方向上扫描电子束,并且每行进行漂移校正。前提是,由于到目前为止已经通过漂移校正进行了校正,所以未执行到最后一个Y方向的扫描。
版权:(C)2010,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP5351531B2
专利类型
公开/公告日2013-11-27
原文格式PDF
申请/专利权人 株式会社日立ハイテクノロジーズ;
申请/专利号JP20090012404
申请日2009-01-22
分类号H01J37/22;H01J37/28;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 16:11:08