首页> 外国专利> Smear specimen staining apparatus, smear specimen preparation apparatus, smear specimen processing system, and staining condition determination method

Smear specimen staining apparatus, smear specimen preparation apparatus, smear specimen processing system, and staining condition determination method

机译:涂片样本染色装置,涂片样本制备装置,涂片样本处理系统以及染色条件确定方法

摘要

A smear staining apparatus comprising a staining section which stains a smear sample with a quantity of stain fluid and a controller, wherein the controller receives information regarding a stain state on a smear sample which is stained according to a first staining condition by the staining section and determines a second staining condition on the basis of the information and a target value which defines a targeted stain state, is disclosed. A smear processing system and method for determining staining condition are also disclosed.
机译:一种涂片染色设备,包括:用一定量的染色液对涂片样本进行染色的染色部和控制器,其中,所述控制器接收关于在由所述染色部根据第一染色条件被染色的涂片样本上的染色状态的信息,以及根据该信息确定第二染色条件,并且公开了限定目标染色状态的目标值。还公开了一种用于确定染色状况的涂片处理系统和方法。

著录项

  • 公开/公告号JP5378271B2

    专利类型

  • 公开/公告日2013-12-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 シスメックス株式会社;

    申请/专利号JP20100054265

  • 发明设计人 山田 和宏;山崎 充生;

    申请日2010-03-11

  • 分类号G01N1/30;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 16:11:08

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号