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TUNABLE LIGHT SOURCE SYSTEM WITH WAVELENGTH MEASUREMENT FOR A HYPER-SPECTRAL IMAGING SYSTEM

机译:用于超光谱成像系统的具有波长测量的可调光源系统

摘要

A tunable light source system with wavelength measurement capability for a hyper-spectral imaging system is disclosed. A method includes reference filtering a portion of a tunable light beam while tuning the center wavelength, detecting with at least one photodetector the reference-filtered tunable light beam and generating therefrom at least one detector signal that varies with the center wavelength, and determining a tunable center wavelength based on the at least one detector signal.
机译:公开了一种用于高光谱成像系统的具有波长测量能力的可调光源系统。一种方法,包括在调谐中心波长时对可调谐光束的一部分进行参考滤波,用至少一个光电探测器检测参考滤波后的可调谐光束,并从中产生随中心波长变化的至少一个检测器信号,并确定可调谐光束。中心波长基于至少一个检测器信号。

著录项

  • 公开/公告号US2014327816A1

    专利类型

  • 公开/公告日2014-11-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CORNING INCORPORATED;

    申请/专利号US201214360999

  • 发明设计人 CAMERON JOHN TOVEY;

    申请日2012-11-29

  • 分类号G01J3/28;H04N5/235;G01J9/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 16:07:29

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