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Test card with a cuttable goldfinger structure

机译:具有可切割金手指结构的测试卡

摘要

A test card includes a substrate and a goldfinger structure disposed on a side of the substrate. The goldfinger structure includes a first conductive section and a second conductive section. The first conductive section is inserted into a slot of a socket for electrically connecting to the socket. The second conductive section is connected to the first conductive section in a separable manner, and the second conductive section is inserted into the slot of the socket for electrically connecting to the socket after the first conductive section is cut for separating from the second conductive section.
机译:一种测试卡,包括基板和设置在所述基板的侧面上的金手指结构。金手指结构包括第一导电部分和第二导电部分。第一导电部分插入插座的槽中以电连接到插座。第二导电部分可分离地连接至第一导电部分,并且在将第一导电部分切割以与第二导电部分分离之后,将第二导电部分插入插座的槽中以与插座电连接。

著录项

  • 公开/公告号US8853545B2

    专利类型

  • 公开/公告日2014-10-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 WISTRON CORPORATION;

    申请/专利号US201313798040

  • 发明设计人 KUEI-YUNG CHENG;YAO-QUAN HU;

    申请日2013-03-12

  • 分类号H05K1/00;H05K1/03;H05K1/09;H05K1/11;H01R13/58;H05K1/14;H05K1/02;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 16:01:58

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