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Method of forming a chalcogenide material and methods of forming a resistive random access memory device including a chalcogenide material

机译:形成硫属化物材料的方法和形成包括硫属化物材料的电阻式随机存取存储装置的方法

摘要

A method of forming a chalcogenide material on a surface of a substrate comprising exposing a surface of a substrate to ionized gas clusters from a source gas, the ionized gas clusters comprising at least one chalcogen and at least one electropositive element. A method of forming a resistive random access memory device is also disclosed. The method comprises forming a plurality of memory cells wherein each cell of the plurality of memory cells is formed by forming a metal on a first electrode, forming a chalcogenide material on the metal by a gas cluster ion beam process, and forming a second electrode on the chalcogenide material. A method of forming another resistive random access memory device and a random access memory device including the chalcogenide material are also disclosed.
机译:一种在衬底的表面上形成硫族化物材料的方法,该方法包括将衬底的表面从源气体暴露于电离的气体簇中,所述电离的气体簇包括至少一种硫属元素和至少一种正电元素。还公开了一种形成电阻式随机存取存储器件的方法。该方法包括形成多个存储单元,其中,通过在第一电极上形成金属,通过气体团簇离子束工艺在金属上形成硫族化物材料,以及在其上形成第二电极来形成多个存储单元中的每个单元。硫族化物材料。还公开了形成另一种电阻式随机存取存储器件的方法以及包括硫族化物材料的随机存取存储器件。

著录项

  • 公开/公告号US8679914B2

    专利类型

  • 公开/公告日2014-03-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TIMOTHY A. QUICK;

    申请/专利号US20100917930

  • 发明设计人 TIMOTHY A. QUICK;

    申请日2010-11-02

  • 分类号H01L21/336;H01L21/00;H01L21/425;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 16:01:25

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