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Layout fixing guideline system for double patterning odd cycle violations

机译:针对双图案奇数周期违规的布局固定指南系统

摘要

Some embodiments of the invention provide a method for identifying and displaying odd loops and hints for resolution of the odd loops in an IC design layout for printing on multiple masks. The method of some embodiments identifies the hints by evaluating the effectiveness and feasibility of different potential resolutions, ensuring that hints do not create additional odd loops. The method of some embodiments also displays indications of the odd loops and the hints which a user can use to troubleshoot an odd loop violation. The method of some embodiments also prioritizes or scores the resolution hints to facilitate efficient troubleshooting of odd loop violations.
机译:本发明的一些实施例提供了一种方法,该方法用于识别和显示用于设计在多个掩模上的IC设计布局中的奇数循环和奇数循环的分辨率的提示。一些实施例的方法通过评估不同潜在解决方案的有效性和可行性来识别提示,从而确保提示不会产生额外的奇数循环。一些实施例的方法还显示奇数循环的指示和用户可以用来解决奇数循环违规的提示。一些实施例的方法还对分辨率提示进行优先级排序或评分,以促进对奇数循环违规的有效故障排除。

著录项

  • 公开/公告号US8775983B1

    专利类型

  • 公开/公告日2014-07-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CADENCE DESIGN SYSTEMS INC.;

    申请/专利号US201213725914

  • 发明设计人 XIAOJUN WANG;

    申请日2012-12-21

  • 分类号G06F17/50;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 16:00:16

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