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机译:光学干涉测量数据方向性的测量和修改。
公开/公告号BRPI0808401A2
专利类型
公开/公告日2014-07-08
原文格式PDF
申请/专利权人 CHRISTOF STORK;
申请/专利号BR2008PI08401
发明设计人 CHRISTOF STORK;
申请日2008-02-27
分类号G01V1/16;
国家 BR
入库时间 2022-08-21 15:58:32
机译: 用于外差干涉测量测量的变频器和用于具有这种频率移位器的外差干涉测量测量的装置
机译: 光学干涉测量装置及光学干涉测量方法