机译:用于评估透明基材可见性的设备,用于定位叠层的设备,确定设备,位置检测设备,用于评估金属箔的表面状态的设备,程序,记录介质,制造方法,用于印刷的布线的方法用于定位叠层的方法,确定方法和位置确定方法
公开/公告号WO2013176148A1
专利类型
公开/公告日2013-11-28
原文格式PDF
申请/专利号WO2013JP64122
申请日2013-05-21
分类号G01N21/17;G01M11;G01N21/84;H05K3;
国家 WO
入库时间 2022-08-21 15:53:05