首页> 外国专利> ION GROUP IRRADIATION DEVICE, SECONDARY ION MASS SPECTROSCOPE, AND SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY METHOD

ION GROUP IRRADIATION DEVICE, SECONDARY ION MASS SPECTROSCOPE, AND SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY METHOD

机译:离子群照射装置,二次离子质谱法和二次离子质谱法

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an ion group irradiator for facilitating identification of a peak in a secondary ion mass spectrum.;SOLUTION: An ion group irradiation device for irradiating a sample with an ion group includes an ion source for generating ions, ion group selection means for selecting more than one ion groups, having a different average mass of ions composing an ion group, from the ions emitted from the ion source, and primary ion irradiation means for irradiating a sample with more than one ion groups. Furthermore, the atomic species or molecular species of ions composing more than one ion groups is common among the ion groups.;COPYRIGHT: (C)2015,JPO&INPIT
机译:解决的问题:提供一种离子组辐照器,以利于识别二次离子质谱中的峰。解决方案:用于向样品中的离子组照射的离子组辐照装置包括用于产生离子的离子源,离子组选择装置,用于从离子源发出的离子中选择一个以上的组成离子基团的离子的平均质量不同的离子组,以及一次离子辐照装置,该辐照装置用一个以上的离子组辐照样品。此外,在多个离子基团中,构成一个以上离子基团的离子的原子种类或分子种类很常见。;版权所有:(C)2015,JPO&INPIT

著录项

  • 公开/公告号JP2015028919A

    专利类型

  • 公开/公告日2015-02-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CANON INC;

    申请/专利号JP20140129168

  • 申请日2014-06-24

  • 分类号H01J49/14;G01N27/62;G01N27/64;H01J49/40;H01J37/252;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 15:34:17

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号