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ION BEAM UNIFORMITY CONTROL USING ION BEAM BLOCKERS

机译:使用离子束阻滞剂控制离子束均匀性

摘要

A method of achieving ion beam uniformity control using ion beam blockers. The method includes generating an ion beam, detecting a current profile of said ion beam with an ion beam blocker unit, wherein said detected current profile is an initial current profile, blocking a portion of said ion beam with said ion beam blocker unit to achieve a second current profile that is different from the initial current profile, and implanting said ion beam into a workpiece after said blocking.
机译:一种使用离子束阻挡器实现离子束均匀性控制的方法。该方法包括产生离子束,用离子束阻挡器单元检测所述离子束的电流分布,其中所述检测到的电流分布是初始电流分布,用所述离子束阻挡器阻挡所述离子束的一部分以实现第二电流轮廓不同于初始电流轮廓,并且在所述阻挡之后将所述离子束注入到工件中。

著录项

  • 公开/公告号US2015270099A1

    专利类型

  • 公开/公告日2015-09-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 VARIAN SEMICONDUCTOR EQUIPMENT ASSOCIATES INC.;

    申请/专利号US201414221840

  • 发明设计人 JOSEPH C. OLSON;

    申请日2014-03-21

  • 分类号H01J37/30;H01J37/317;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 15:26:13

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