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ANTENNA STRUCTURES AND METHODS THEREOF FOR DETERMINING A FREQUENCY OFFSET BASED ON A REACTANCE MEASUREMENT

机译:用于基于电抗测量确定频率偏移的天线结构及其方法

摘要

A system that incorporates the subject disclosure may include, for example, a circuit for measuring a change in reactance of an antenna, determining a frequency offset of the antenna based on a change in an operating frequency of the antenna according to the change in reactance of the antenna, and adjusting the operating frequency of the antenna to mitigate the frequency offset of the antenna. Other embodiments are disclosed.
机译:结合了本主题公开的系统可以包括例如用于测量天线的电抗的变化的电路,该电路根据天线的电抗的变化基于天线的工作频率的变化来确定天线的频率偏移。天线,并调整天线的工作频率以减轻天线的频率偏移。公开了其他实施例。

著录项

  • 公开/公告号US2015116170A1

    专利类型

  • 公开/公告日2015-04-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SKYCROSS INC.;

    申请/专利号US201414285223

  • 发明设计人 FRANK M. CAIMI;

    申请日2014-05-22

  • 分类号H01Q9/04;G01R23/02;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 15:23:21

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