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Indicator-based product design optimization to find defective and non-defective status

机译:基于指标的产品设计优化,以发现有缺陷和无缺陷的状态

摘要

Disclosed is a simulation method for simulating an operation of a device. The simulation method includes specifying, by a computer, a boundary between a non-defective status and a defective status of a product in design space with a design parameter as an origin. The boundary is specified according to a search using a search indicator defined based on an operating state different from an operating state of a determination indicator that determines the non-defective status and the defective status of the operation.
机译:公开了一种用于模拟设备的操作的模拟方法。该模拟方法包括通过计算机在设计空间中以设计参数为起点来指定产品的无缺陷状态和缺陷状态之间的边界。通过使用基于与确定操作的无缺陷状态和有缺陷状态的确定指示器的操作状态不同的操作状态而定义的搜索指示器来进行搜索来指定边界。

著录项

  • 公开/公告号US9064070B2

    专利类型

  • 公开/公告日2015-06-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HIROSHI IKEDA;HIDETOSHI MATSUOKA;

    申请/专利号US201113022359

  • 发明设计人 HIROSHI IKEDA;HIDETOSHI MATSUOKA;

    申请日2011-02-07

  • 分类号G06F17/50;G11C29/50;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 15:19:56

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