首页> 外国专利> REFLECTION SEISMIC DATA Q TOMOGRAPHY

REFLECTION SEISMIC DATA Q TOMOGRAPHY

机译:反射地震数据的层析成像

摘要

Method for reconstructing subsurface Q depth profiles from common offset gathers (92) of reflection seismic data by performing migration (40), ray tracing (100), CDP-to-surface takeoff angle finding (96, 98), kernel matrix construction (110), depth-to-time conversion and wavelet stretching correction (80), source amplitude spectrum fitting, centroid frequency shift calculation (90), and box-constrained optimization (120).
机译:通过执行偏移(40),射线追踪(100),CDP到地面起飞角发现(96、98),核矩阵构造(110)从反射地震数据的公共偏移量道(92)重建地下Q深度剖面的方法),深度到时间转换和小波拉伸校正(80),源振幅谱拟合,质心频移计算(90)和框约束优化(120)。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号