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SYSTEM AND METHOD FOR SUPPORTING GLOBAL EFFECT ANALYSIS

机译:支持全局效果分析的系统和方法

摘要

The embodiments relate to methods and systems for supporting a global effect analysis of a technical system. The embodiments include providing a meta-model stored in a computer readable storage medium, where the meta-model comprises at least one assembly of the technical system comprising parts having an associated set of failure mode elements, and where each failure mode element has an associated local effect element. The embodiments also include clustering local effect elements within global effect elements to generate a global effect tree stored within the meta-model.
机译:实施例涉及用于支持技术系统的全局效果分析的方法和系统。实施例包括提供存储在计算机可读存储介质中的元模型,其中该元模型包括技术系统的至少一个组件,该组件包括具有相关联的故障模式元素集的部件的技术系统,并且其中每个故障模式元素具有相关联的信息。局部效应元素。实施例还包括将全局效果元素内的局部效果元素聚类以生成存储在元模型内的全局效果树。

著录项

  • 公开/公告号EP2960837A1

    专利类型

  • 公开/公告日2015-12-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT;

    申请/专利号EP20150167236

  • 发明设计人 HÖFIG KAI;

    申请日2015-05-12

  • 分类号G06Q10/04;G06Q10/10;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 14:48:06

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