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Method for manufacturing a InGaSb thin film on a silicon substrate

机译:在硅衬底上制造InGaSb薄膜的方法

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for forming a high quality compound semiconductor crystal having a lattice constant different from that of silicon on a silicon substrate.;SOLUTION: A method for forming an InGaSb thin film on a silicon substrate comprises: a step for growing a first buffer layer 302 consisting of graphite-like boron nitride thin film on a sapphire substrate 301; a step for growing a second buffer layer 303 consisting of a compound semiconductor containing Al on the first buffer layer 302; a step for growing an InGaSb thin film 304 on the second buffer layer 303; and a step for separating a part of the first buffer layer 302 and the InGaSb thin film 304 from the first buffer layer 302 mechanically and for transferring the InGaSb thin film 304 onto a silicon substrate.;COPYRIGHT: (C)2015,JPO&INPIT
机译:解决的问题:提供一种在硅基板上形成晶格常数与硅的晶格常数不同的高质量化合物半导体晶体的方法。解决方案:在硅基板上形成InGaSb薄膜的方法包括:步骤用于在蓝宝石衬底301上生长由石墨状氮化硼薄膜组成的第一缓冲层302;在第一缓冲层302上生长由包含Al的化合物半导体构成的第二缓冲层303的步骤;在第二缓冲层303上生长InGaSb薄膜304的步骤;机械地从第一缓冲层302分离第一缓冲层302和InGaSb薄膜304的一部分并将InGaSb薄膜304转移到硅衬底上的步骤。版权所有:(C)2015,JPO&INPIT

著录项

  • 公开/公告号JP5970408B2

    专利类型

  • 公开/公告日2016-08-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 日本電信電話株式会社;

    申请/专利号JP20130077207

  • 发明设计人 横山 春喜;小林 康之;

    申请日2013-04-02

  • 分类号C30B29/40;C30B33/06;C30B25/18;H01L21/205;H01L21/02;H01L21/20;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 14:45:12

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