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Magnetic substance characteristic analysis program, magnetic substance characteristic analyzing apparatus, and magnetic substance characteristic analyzing method

机译:磁性物质特性分析程序,磁性物质特性分析装置和磁性物质特性分析方法

摘要

A magnetic property analyzing apparatus includes a first computing unit to perform a magnetic field analysis utilizing a FEM using an average magnetization given with respect to each of elements to which an analyzing target is segmented, and a second computing unit that computes an effective magnetic field acting on each element using a magnetic field computed by the magnetic field analysis, computes magnetization vectors within each element by obtaining a time integral of a LLG equation using the effective magnetic field, and computes an average magnetization for each element by averaging the magnetization vectors.
机译:磁特性分析装置包括:第一计算单元,其使用FEM来执行磁场分析,该FEM使用针对分割了分析对象的每个元素给出的平均磁化强度来计算;以及第二计算单元,其计算有效磁场作用使用通过磁场分析计算出的磁场在每个元素上的磁化强度,通过使用有效磁场获得LLG方程的时间积分来计算每个元素内的磁化矢量,并通过平均磁化矢量来计算每个元素的平均磁化强度。

著录项

  • 公开/公告号JP5915157B2

    专利类型

  • 公开/公告日2016-05-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 富士通株式会社;

    申请/专利号JP20110280544

  • 发明设计人 清水 香壱;

    申请日2011-12-21

  • 分类号G06F17/50;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 14:43:24

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