首页> 外国专利> PROCESS MAPPING OF TRANSIENT THERMAL RESPONSE DUE TO VALUE CHANGES IN A PROCESS VARIABLE

PROCESS MAPPING OF TRANSIENT THERMAL RESPONSE DUE TO VALUE CHANGES IN A PROCESS VARIABLE

机译:过程变量中因值变化而引起的瞬态热响应的过程映射

摘要

A method includes conducting a plurality of tests on process variables of a manufacturing process, with a test of the plurality of tests being associated with two combinations of process variables, the test having first values for a first combination of process variables at a first time and second values for a second combination of process variables at a second time, the test comprising: locally heating a region of a structure, wherein the local heating results in formation of a thermal field in the structure; assessing one or more thermal characteristics of the thermal field during a transition between the first combination of process variables and the second combination of process variables; and based on results of the plurality of tests, generating a process map of a transient response of the one or more thermal characteristics of the thermal field.
机译:一种方法,包括对制造过程的过程变量进行多个测试,其中所述多个测试的测试与过程变量的两个组合相关联,所述测试在第一时间具有用于过程变量的第一组合的第一值,并且对于第二次过程变量的第二组合的第二值,所述测试包括:局部加热结构的区域,其中所述局部加热导致在所述结构中形成热场;以及在过程变量的第一组合与过程变量的第二组合之间的过渡期间,评估热场的一个或多个热特性;并基于所述多个测试的结果,生成所述热场的一个或多个热特性的瞬态响应的过程图。

著录项

  • 公开/公告号US2016041111A1

    专利类型

  • 公开/公告日2016-02-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CARNEGIE MELLON UNIVERSITY;

    申请/专利号US201414776445

  • 发明设计人 JACK LEE BEUTH;JASON CHO FOX;

    申请日2014-03-14

  • 分类号G01N25;B23K31/12;B23K31/02;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 14:37:55

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号