首页> 外国专利> SPECTROSCOPIC ANALYSIS APPARATUS AND METHOD OF CALIBRATING SPECTROSCOPIC ANALYSIS APPARATUS

SPECTROSCOPIC ANALYSIS APPARATUS AND METHOD OF CALIBRATING SPECTROSCOPIC ANALYSIS APPARATUS

机译:光谱分析仪器和校准光谱分析仪器的方法

摘要

A spectroscopic analysis apparatus includes a spectrum measurement unit that measures an optical spectrum of a measurement target, a storage unit that stores reference data in which an intrinsic wavelength with respect to a known component is recorded, a feature specification section that specifies a feature point corresponding to the intrinsic wavelength in the optical spectrum which is measured by using the reference data, and a wavelength correction section that corrects a wavelength of the feature point in the optical spectrum as the intrinsic wavelength.
机译:光谱分析装置包括:光谱测量单元,其测量测量目标的光谱;存储单元,其存储记录有相对于已知成分的固有波长的参考数据;特征指定部分,其指定对应的特征点。波长校正部将通过使用基准数据而测得的光谱中的固有波长校正为波长,并将校正光谱中的特征点的波长作为固有波长校正为波长校正部。

著录项

  • 公开/公告号US2016091369A1

    专利类型

  • 公开/公告日2016-03-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SEIKO EPSON CORPORATION;

    申请/专利号US201514861063

  • 发明设计人 KAZUNORI SAKURAI;HIROKAZU KASAHARA;

    申请日2015-09-22

  • 分类号G01J3/28;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 14:34:07

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号