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Guided wave mode sweep technique for optimal mode and frequency excitation

机译:导波模式扫描技术可实现最佳模式和频率激励

摘要

A method of inspecting a structure is disclosed. The method generally comprises selecting a search region of a dispersion curve of the structure corresponding to one or more inspection parameters. The search region comprises at least one guided wave mode activation point not located on the dispersion curve. The method further comprises activating, using an inspection system comprising at least one transducer, a plurality of activation points located within the search region of the dispersion curve and identifying an optimal activation point for the one or more inspection parameters. The optimal activation point comprises at least one of the plurality of activation points producing an optimal response for the one or more inspection parameters.
机译:公开了一种检查结构的方法。该方法通常包括选择对应于一个或多个检查参数的结构的色散曲线的搜索区域。搜索区域包括不在色散曲线上的至少一个导波模式激活点。该方法还包括使用包括至少一个换能器的检查系统来激活位于色散曲线的搜索区域内的多个激活点,并为一个或多个检查参数识别最佳激活点。最佳激活点包括产生用于一个或多个检查参数的最佳响应的多个激活点中的至少一个。

著录项

  • 公开/公告号US9488623B2

    专利类型

  • 公开/公告日2016-11-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 THE PENN STATE RESEARCH FOUNDATION;

    申请/专利号US201414506151

  • 发明设计人 JASON PHILTRON;JOSEPH L. ROSE;

    申请日2014-10-03

  • 分类号G01N29/07;G01N29/34;G01N29/04;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 14:30:56

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