首页> 外国专利> Microcontroller with optimized ADC controller

Microcontroller with optimized ADC controller

机译:具有优化ADC控制器的微控制器

摘要

An analog-to-digital (ADC) controller is used in combination with a digital processor of a microcontroller to control the operation of capacitance measurements using the capacitive voltage division (CVD) method. The ADC controller handles the CVD measurement process instead of the digital processor having to run additional program steps for controlling charging and discharging of a capacitive touch sensor and sample and hold capacitor, then coupling these two capacitors together, and measuring the resulting voltage charge thereon in determining the capacitance thereof. The ADC controller may be programmable and its programmable parameters stored in registers.
机译:模数(ADC)控制器与微控制器的数字处理器结合使用,以使用电容性分压(CVD)方法控制电容测量的操作。 ADC控制器处理CVD测量过程,而不是数字处理器必须运行其他程序步骤,以控制电容式触摸传感器的充电和放电以及采样和保持电容器,然后将这两个电容器耦合在一起,并测量由此产生的电压电荷。确定其电容。 ADC控制器可以是可编程的,其可编程参数存储在寄存器中。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号