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Fail address detector, semiconductor memory device including the same and method of detecting fail address

机译:故障地址检测器,包括该故障地址检测器的半导体存储装置以及检测故障地址的方法

摘要

A fail address detector includes cam latch groups configured to store fail addresses and a comparing section connected to the cam latch groups in common and configured to detect whether or not a fail address corresponding to a comparison address exists among the fail addresses received from the cam latch groups. The cam latch groups share the comparing section in time division.
机译:故障地址检测器包括:配置为存储故障地址的凸轮锁存器组;以及共同连接至凸轮锁存器组并配置为检测从凸轮锁存器接收的故障地址中是否存在与比较地址相对应的故障地址的比较部。组。凸轮锁存器组在时分上共享比较部分。

著录项

  • 公开/公告号US9208879B2

    专利类型

  • 公开/公告日2015-12-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SANG OH LIM;

    申请/专利号US201213717139

  • 发明设计人 SANG OH LIM;

    申请日2012-12-17

  • 分类号G11C15/04;G11C15;G11C29/04;G11C29/44;G11C29;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 14:27:42

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