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MINIMUM NUMBER OF TEST PATHS FOR PRIME PATH COVERAGE

机译:覆盖主要路径的最小测试路径数

摘要

A system generates a test path set in a very efficient manner. The test path set may be tailored to test a target physical system, such as a complex set of source code, a manufacturing line of multiple process nodes, or other physical system. The system may generate the test path set to meet certain goals in testing the target physical system, for example comprehensive testing of system pa ths, system nodes, or particular subsets. As one example, the system may efficiently generate a test path set that uses the minimum numbe r of test paths to test a coverage goal, for example traversing each of the prime paths in the target physical system.
机译:系统以非常有效的方式生成测试路径集。可以定制测试路径集以测试目标物理系统,例如复杂的源代码集,多个过程节点的生产线或其他物理系统。系统可以生成测试路径集,以满足在测试目标物理系统中的某些目标,例如对系统部分,系统节点或特定子集的全面测试。作为一个示例,系统可以有效地生成测试路径集,该测试路径集使用最小数量的测试路径来测试覆盖目标,例如遍历目标物理系统中的每个主要路径。

著录项

  • 公开/公告号IN2014CH00284A

    专利类型

  • 公开/公告日2016-07-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号IN284/CHE/2014

  • 发明设计人 ANURAG DWARAKANATH;ARUNA JANKITI;

    申请日2014-01-23

  • 分类号F25B45/00;

  • 国家 IN

  • 入库时间 2022-08-21 14:25:32

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