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SPECTRUM ANALYSIS APPARATUS FINE PARTICLE MEASUREMENT APPARATUS AND METHOD AND PROGRAM FOR SPECTRUM ANALYSIS OR SPECTRUM CHART DISPLAY

机译:光谱分析装置细颗粒测量装置以及用于光谱分析或光谱图显示的方法和程序

摘要

Provided is a spectrum analysis apparatus including a processing unit configured to generate analysis data using an analysis function in which a linear function and a logarithmic function are included as function elements and an intensity value is set as a va riable from measurement data including the intensity value of light acquired by detecting the light from a measurement target object using a plurality of light receiving elements having different detection wavelength bands.
机译:提供一种频谱分析装置,其包括处理单元,该处理单元被配置为使用分析函数来生成分析数据,其中包括线性函数和对数函数作为函数元素,并且将强度值设置为可从包括强度值的测量数据中获取的值通过使用具有不同检测波长带的多个光接收元件检测来自测量目标物体的光而获得的光的变化。

著录项

  • 公开/公告号IN2014CN01717A

    专利类型

  • 公开/公告日2016-07-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号IN1717/CHENP/2014

  • 发明设计人 NITTA NAO;

    申请日2014-03-05

  • 分类号G01N21/64;

  • 国家 IN

  • 入库时间 2022-08-21 14:25:29

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