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MULTI-LEVEL DATA PATTERN GENERATION FOR I/O TESTING OF MULTILEVEL INTERFACES

机译:多层接口I / O测试的多层数据模式生成

摘要

One feature is a method of reading data from a plurality of pattern registers, generating a first output at a mapping register from the read data, generating a second output, different from the first output, at the mapping register from the read data, and generating a multi-level signal using the first and second outputs. In one embodiment, generating the first output is done by adding a first plurality of bits to a second plurality of bits, and generating the second output is done by adding the first plurality of bits to an inverse of the second plurality of bits.
机译:一个特征是一种方法,该方法从多个模式寄存器读取数据,从读取的数据在映射寄存器处生成第一输出,在映射寄存器处从读取的数据生成与第一输出不同的第二输出,并生成使用第一和第二输出的多电平信号。在一个实施例中,通过将第一多个比特加到第二多个比特来完成生成第一输出,并且通过将第一多个比特加到第二多个比特的倒数来完成第二输出。

著录项

  • 公开/公告号WO2015103290A3

    专利类型

  • 公开/公告日2015-12-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 QUALCOMM INCORPORATED;

    申请/专利号WO2014US72798

  • 发明设计人 HOLLIS TIMOTHY MOWRY;

    申请日2014-12-30

  • 分类号G11C29/02;G11C29/36;G11C29/12;G06F11/27;G06F11/263;

  • 国家 WO

  • 入库时间 2022-08-21 14:20:55

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