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INTEGRATED CIRCUIT INCLUDING PROGRAMMABLE LOGIC ANALYSER WITH ENHANCED ANALYSING AND DEBUGGING CAPABILITIES AND METHOD THEREFOR

机译:集成了具有增强的分析和调试功能的可编程逻辑分析仪的电路及其方法

摘要

FIELD: electronics.;SUBSTANCE: invention relates to analysers of electronic circuits. Device comprises an integrated circuit, comprising a logic analyser circuitry having a first input receiving a plurality of signals, and a first output for providing selected samples of signals appearing at first input, and a first block having a first input coupled to logic analyser circuitry for receiving one or more of signals appearing at first input thereof and an output coupled to logic analyser circuitry for directly providing a distinct set of one or more signals, that are based upon one or more signals at first input of first block according to a predetermined function, predetermined function being configurable.;EFFECT: technical result is improvement of debugging capabilities and expansion of functional capabilities.;17 cl, 11 dwg
机译:电子电路分析仪技术领域本发明涉及电子电路分析仪。该设备包括集成电路,该集成电路包括:逻辑分析器电路,其具有接收多个信号的第一输入;以及第一输出,用于提供出现在第一输入处的信号的选定样本;以及第一块,其具有与逻辑分析器电路耦合的第一输入。接收出现在其第一输入处的一个或多个信号,以及耦合至逻辑分析器电路的输出,用于根据预定功能直接基于第一块的第一输入处的一个或多个信号直接提供一个或多个信号的不同集合。效果:技术成果是调试能力的提高和功能能力的扩展。; 17 cl,11 dwg

著录项

  • 公开/公告号RU2598908C2

    专利类型

  • 公开/公告日2016-10-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 LEKSMARK INTERNESHNL INK.;

    申请/专利号RU20130104873

  • 发明设计人 BEJLI DZHEJMS REJ (US);

    申请日2011-09-08

  • 分类号G01R31/3177;

  • 国家 RU

  • 入库时间 2022-08-21 14:10:31

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